BeNano Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。
基本性能指标
Zata电位测试
| 原理 | 相位分析光散射技术 |
检测角度 | 12° |
Zeta范围 | 无实际限制 |
电泳迁移率范围 | > ±20 μm.cm/V.s |
电导率范围 | 0-260 mS/cm |
Zeta测试粒径范围 | 2 nm – 120 μm |
样品量 | 0.75 mL – 1.0 mL |
趋势测试
| 时间和温度 |
系统参数
温控范围 | -15℃-110℃，精度±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥空气或者氮气 |
标准激光光源 | 50 mW 高性能固体激光器， 671 nm |
相关器 | 最多 4000通道，1011动态线性范围 |
检测器 | APD （高性能雪崩光电二极管） |
光强控制 | 0.0001% - 100%，手动或者自动 |
软件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
检测参数
●Zeta 电位
●Zeta 电位分布
检测技术
●电泳光散射
●相位分析光散射
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400-875-1717转816
